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超低頻耐壓測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述：

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VLF-65E VLF超低頻耐壓測(cè)試儀的詳細(xì)資料：

美國(guó)HVI(美高測(cè))VLF-65E VLF超低頻耐壓測(cè)試儀，本產(chǎn)品采用*新的電子設(shè)計(jì)，具備全自動(dòng)、可編程操作、數(shù)據(jù)采集和報(bào)告功能，以及現(xiàn)成的介損測(cè)試儀?，F(xiàn)在熱賣中，如需購(gòu)買VLF-65E VLF超低頻耐壓測(cè)試儀，可通過ai1718客服熱線聯(lián)系我們！

VLF-65E VLF超低頻耐壓測(cè)試儀簡(jiǎn)介：
•VLF-65E采用*新的電子設(shè)計(jì)，具備全自動(dòng)、可編程操作、數(shù)據(jù)采集和報(bào)告功能，以及現(xiàn)成的介損測(cè)試儀，可通過定制軟件實(shí)現(xiàn)無線控制
•VLF-65E是目前超低頻界*好的產(chǎn)品
•VLF-65E可選擇配備美高測(cè)設(shè)計(jì)的介損測(cè)試配件，局部放電探測(cè)可選配件。
•VLF-65E輸出電壓： 0 – 65 kVac（峰值），正弦型0.5 μF – 5.0 μF, 0.1 Hz – 0.01 Hz
•VLF-65E輸出頻率：0.1-0.01Hz
•VLF-65E負(fù)載電容：5µF
•VLF-65E符合IEEE400.2,IEEE433,VDE 0276, CENELEC等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)
•VLF-65E超低頻測(cè)試儀用于進(jìn)行簡(jiǎn)單的是/否或通過/失敗耐壓測(cè)試
•VLF-65E超低頻測(cè)試儀還能用作離線電纜診斷局部放電測(cè)試和介損測(cè)試的電壓源。

VLF-65E VLF超低頻耐壓測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：

VLF-65E 符合以下規(guī)格：IEEE 400.2、IEEE 400、IEC 60060-3、CENELEC HD 620/621、VDE DIN 0276-620/621。IEEE 433 用于電機(jī)/發(fā)電機(jī)。

輸入：	100 V 交流電 – 265 V 交流電，50 Hz/60 Hz，最大 20 A
輸出：	甚低頻正弦波：0 – 65 kV 交流峰值/46 kV AC RMS @ 28 mA RMS VLF 方波：0 – 65 kV 交流峰值 @ 22 mA 直流：0 – ± 65 kV @ 22 mA 護(hù)套測(cè)試 – 可編程
責(zé)任：	連續(xù)的
頻率：	0.1 Hz 至 0.01 Hz，步長(zhǎng)為 0.01 Hz
額定載荷：	1.0 μF @ 0.10 Hz @ 65 kV 2.0 μF @ 0.05 Hz @ 65 kV 5.0 μF @ 0.02 Hz @ 65 kV 10.0 μF @ 0.01 Hz @ 65 kV μF 額定值在較低電壓下增加例如：1.4 μF @ 0.1 Hz @ 47 kV 峰值
伏特計(jì)：	電壓 kV 峰值或 RMS，精度為 +/-1%
電流表：	mA 峰值或 RMS，+/-1% 精度
計(jì)算：	電容、電阻、tan delta 閃光過壓、故障時(shí)間
故障響應(yīng)：	智能故障管理 – 故障燃燒或故障關(guān)閉
報(bào)告/數(shù)據(jù)：	非易失性存儲(chǔ)器或可移動(dòng) USB 記憶棒中最多可存儲(chǔ) 50 條測(cè)試記錄
PC 接口：	USB 和 XBee 無線
PC 軟件：	遙控器和測(cè)試數(shù)據(jù)報(bào)告
尺寸和重量：（寬 x 深 x 高）	22 x 14.5 x 26 英寸，150 磅 559 x 369 x 660 毫米，68 千克
輸出端接：	20'/6 m 柔性 X 射線，接地 #2 – 20'/6 m #10 測(cè)試引線、接地鉤、線

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超低頻耐壓測(cè)試儀

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